한국표준과학연구원(KRISS)이 보유하고 있는 연구 장비 중 공동 활용이 가능한 장비를 대외에 개방함으로써 고가의 연구 장비 구축에 따른 산업체의 중복투자 및 경제적 부담을 덜어주고 산업체 경쟁력을 강화시키는데 목적이 있습니다.
한국표준과학연구원(KRISS) 중소기업협력그룹 담당자와 사전 상담 후 신청 가능
전계방출형 방식으로, 고분해능 이미지 관찰
Low Vac mode : 부도체 시료를 전처리 없이 관찰
ESEM mode : 시료실 환경을 변화시켜가며 관찰
100,000 원/시간 (VAT 별도)
Low Vac mode : 20 % 가산
ESEM mode : 45 % 가산
중소기업 20 % 할인
담당자 : 중소기업협력센터 송주현
이메일 : jhssong@kriss.re.kr
전화 : 042-868-5260
예약은 ZEUS와 연계해 제공됩니다.
시료 표면의 거칠기 및 단차 측정에 특화 (4 ㎛ 이하)
최대 측정범위 45 ㎛ × 45 ㎛
비전도성 시료(생체시료 등) 종류에 관계없이 측정 가능
Passive, Active 제진대 사용으로 Noise 발생 억제
60,000 원/시간 (VAT 별도)
소모품(TIP) 별도 실비정산(기본: 70,000 원/개)
중소기업 20% 할인
담당자: 중소기업협력센터 송주현
이메일: jhssong@kriss.re.kr
전 화: 042-868-5260
예약은 ZEUS와 연계해 제공됩니다.