연구장비 공동활용

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목적 및 정의

한국표준과학연구원(KRISS)이 보유하고 있는 연구 장비 중 공동 활용이 가능한 장비를 대외에 개방함으로써 고가의 연구 장비 구축에 따른 산업체의 중복투자 및 경제적 부담을 덜어주고 산업체 경쟁력을 강화시키는데 목적이 있습니다.

연구 장비 공동활용 다이어그램 이미지

신청절차

한국표준과학연구원(KRISS) 중소기업협력그룹 담당자와 사전 상담 후 신청 가능

공동활용장비 목록   연구장비 공동활용 문의   교정/시험 정보 검색(표준성과한마당)  

문의

전계방출형 환경주사전자 현미경

FEG Environmental Scanning Electron Microscope (FEI, QUANTA FEG 650)

SEM 예약의뢰  
  • 특징

    전계방출형 방식으로, 고분해능 이미지 관찰

    Low Vac mode : 부도체 시료를 전처리 없이 관찰

    ESEM mode : 시료실 환경을 변화시켜가며 관찰

  • 이용료

    100,000 원/시간 (VAT 별도)

    Low Vac mode : 20 % 가산

    ESEM mode : 45 % 가산

    중소기업 20 % 할인

  • 문의처

    담당자 : 중소기업협력센터 송주현

    이메일 : jhssong@kriss.re.kr

    전화 : 042-868-5260

    예약은 ZEUS와 연계해 제공됩니다.

SEM 서비스 신청 과정 이미지

원자간력 현미경

Atomic Force Microscope (Park System, XE7)

AFM 예약의뢰  
  • 특징

    시료 표면의 거칠기 및 단차 측정에 특화 (4 ㎛ 이하)

    최대 측정범위 45 ㎛ × 45 ㎛

    비전도성 시료(생체시료 등) 종류에 관계없이 측정 가능

    Passive, Active 제진대 사용으로 Noise 발생 억제

  • 이용료

    60,000 원/시간 (VAT 별도)

    소모품(TIP) 별도 실비정산(기본: 70,000 원/개)

    중소기업 20% 할인

  • 문의처

    담당자: 중소기업협력센터 송주현

    이메일: jhssong@kriss.re.kr

    전   화: 042-868-5260

    예약은 ZEUS와 연계해 제공됩니다.

AFM 서비스 신청 과정 이미지